• 讲座时间：2023年3月21日 9:00-11:00

• 讲座地点：T5405

• 讲座内容：

1、介绍实验中心XPS设备使用情况；

2、PHI（中国）鞠焕新博士分享《XPS表面分析技术案例应用及数据处理技巧》报告，内容涵盖XPS原理、应用案例、样品准备及数据处理等内容：

（1）分析技术原理,XPS、UPS和LEIPS等；

（2）结合科学研究来分享XPS在化学态空间分辨中的应用案例，包括XPS化学态微区分析和深度分析、UPS和LEIPS电子结构研究；

（3）结合能校准、化学态解析、谱峰拟合、数据拟合的合理性判定和数据快速批量拟合等讲解Multipak软件XPS数据处理过程；

3、针对校区XPS设备使用交流答疑。

• 报告人简介：

鞠焕鑫博士，PHI (China) Limited 高德英特(北京)科技有限公司应用科学家。分别于2009年和2014年于中国科学技术大学获得学士和博士学位，毕业后在国家同步辐射实验室从事博士后研究。2016年6月-2018年10月，担任中国科学技术大学国家同步辐射实验室特任副研究员。2018年11月，加入PHI (China) Limited 高德英特(北京)科技有限公司，担任应用专家。长期从事软X射线谱学方法学研究以及能源材料、器件界面电子性质研究，在学术研究方面与用户合作在Science, Nature，Nature Photonics, Nature Chemistry, Nature Energy, J. Am. Chem. Soc., Angew. Chem. Int. Ed, Adv. Mater, Adv. Funct. Mater.等期刊发表学术论文百余篇，主持及参与多个国家级科研项目。